产品简介

科迪仪器快速高低温冲击试验箱它分为高温区，低温区，测试区，产品为静止式，冷热冲击箱适用汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化。

产品名称

冷热冲击试验箱

型 号

KD-TR-80L

试样限制

本试验设备禁止易燃、易爆、易挥发性物质试样的试验；储存腐蚀性物质试样的试验、储存生物的试验、储存强电磁发射源试样的试验及储存。

容积、重量和尺寸

标称内容积

80L

内箱有效尺寸

400×500×400  W×H×D（mm）

外形空间

约1600×2003×1800  W×H×D（mm）具体以实物为准

重量约

1200㎏

噪 音

70db以内（离机台正面1米并离地面1.2米处测量）

电源电压及功率

最大功率约

23KW

最大电流

45A

供电条件和电源

AC380V三相R 、 S  、 T  、N +保护接地；

电压允许波动范围：10%；

频率允许波动范围：（50±0.5）ＨZ；

TN-S方式供电或TT方式供电；

保护地线接地电阻小于4Ω；

要求用户在安装现场为设备配置相应容量的空气或动力开关，并且此开关必须独立控制本设备使用；

性能指标

功能要求

1.（空气）室内空间制冷、加热；

2.根据温度设定，室内空间达到设定温度；

3.分为储热区、储冷区、试验区三个部分；

4、三个区独立，通过风门切换温度；

使用环境条件

环境温度为0～+35℃、相对湿度≤85%.

满足试验标准

测试方法

GJB150.5A-2009温度冲击试验

GB/2423.13-2002温度冲击试验

GJB360B-2009温度冲击试验

GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007电工电子产品环境试验第2部分：试验

方法 试验A：低温

GBT 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温

GBT 10589-2008 低温试验箱技术条件

GBT 11158-2008 高温试验箱技术条件

温度范围

温度范围

高温区温度范围：常温～160℃ 

低温区温度范围：0～ -60℃

测试区温度范围：-40～150℃

控制精度

解析精度: 0.1℃                                

温度波动度: ±1℃

分布均匀度:  ±2.0℃

温度偏差：±1℃

升降温速率

蓄热区升温时间:自常温到150℃,约20分钟

蓄冷区降温时间:自常温到-60℃,约50分钟

注：以上性能指标是在环境温度为+25℃，相对湿度≤85％，无试样条件下测得的数值。